BJ2931A 可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀
可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀測(cè)試儀用于測(cè)量晶閘管（可控硅整流無(wú)件）的通態(tài)、斷態(tài)的觸發(fā)電壓、觸發(fā)電流、維持電流、維持電壓等參數(shù)。可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀的圖示裝置可以顯示被器件的伏安特性。
可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀主要技術(shù)特性：
通壓平穩(wěn)電壓TAV：0－2（V）；
通態(tài)峰值電壓VTM：0－10（A）；
通態(tài)平均電流ITAV：0－5（A）；
通態(tài)峰值電流ITM：0－15（A）；
斷態(tài)峰值電壓VDRM、VDSM，反向峰值電壓VDRM、VRSM：0－4000（V）；
斷態(tài)重復(fù)平均電流IDRM，反向重復(fù)平均電流IRRM：0－100（mA）；
門(mén)級(jí)（控制級(jí)）觸發(fā)電壓VGT：0－10（V）；
門(mén)級(jí)（控制級(jí)）觸發(fā)電流IGT：0－500（mA）；
可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀測(cè)量誤差：≤±5%；
可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀外形尺寸：500×222×500（mm）；
可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀重量：約30kg.
